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10월 20일, 데이터 자동인식 기술동향 세미나 열린다

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최근 데이터의 중요성이 부각되면서 자동인식(AIDC) 기술에 대한 관심이 높아지고 있다. 이러한 추세에 맞춰 다양한 산업 분야에서 활용되고 있는 ‘자동식별 및 데이터 캡처 기술’에 대한 세미나가 오는 10월 20일 개최된다. 


국가기술표준원이 주최하고 한국산업기술시험원이 주관하는 ‘2017년 ISO/IEC JTC1 SC31 국제준동향 세미나’는 자동식별 및 데이터 캡쳐 기술에 대한 산업계의 인식을 높이고 국내 기술의 국제표준화 컨설팅을 지원하는 자리다. 


세미나 프로그램은 ▲ISO/IEC JTC1 SC31 WG4 'Radio Communication'(Josef Preishuber-Pflügl) ▲ISO/IEC JTC1 SC31 'AIDC(Automatic Identification and Data Capture) 기술 동향(중앙대 권영빈 교수) ▲ISO/IEC JTC1 SC31 WG2 ‘Data and structure'(KAIST 박주상 연구원) ▲Test Method for Tag Interference Rejection Performance(한국산업기술시험원 권종원 선임) 등으로 구성된다. 또한 국내 기술 표준화 컨설팅도 마련돼 있다. 



이번 세미나는 10월 20일 오후 2시부터 대한상공회의소(중회의실 B)에서 진행되며, 참가비는 무료다. 






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