MS4640B VNA와 통합된 MN4765B 모듈은 광전자 측정에 적합한 간소한 방식을 제공한다. 기존 R&D 및 제조환경에서 현재 사용 중인 방식을 대체할 수 있을 정도로 경제적이다.
MS4640B는 MN4765B 모듈을 통해서 정확하게 Trace로 표시되는 보정된 전달함수, 군 지연(Group Delay), E/O 및 O/E 부품, 서브시스템의 반사손실 측정을 수행할 수 있다.
김연주 기자 (npnted@hellot.net)
MS4640B VNA와 통합된 MN4765B 모듈은 광전자 측정에 적합한 간소한 방식을 제공한다. 기존 R&D 및 제조환경에서 현재 사용 중인 방식을 대체할 수 있을 정도로 경제적이다.
MS4640B는 MN4765B 모듈을 통해서 정확하게 Trace로 표시되는 보정된 전달함수, 군 지연(Group Delay), E/O 및 O/E 부품, 서브시스템의 반사손실 측정을 수행할 수 있다.
김연주 기자 (npnted@hellot.net)