STRIPER는 측정 대상물에 스트라이프 패턴을 전사, 그 패턴의 변화량으로 곡률을 산출함으로써 표면의 변형을 계측하는 시스템이다. 광지레의 원리로 표면의 변형을 증폭시켜 계측하기 때문에 패턴 투영형의 3차원 계측기로는 곤란한 수 μm의 미소한 변형을 계측할 수 있다. 계측 결과는 컬러맵으로 표시되므로 미소 변형부를 한눈에 알 수 있다.
八光오토메이션
TEL 81-092-611-5751
STRIPER는 측정 대상물에 스트라이프 패턴을 전사, 그 패턴의 변화량으로 곡률을 산출함으로써 표면의 변형을 계측하는 시스템이다. 광지레의 원리로 표면의 변형을 증폭시켜 계측하기 때문에 패턴 투영형의 3차원 계측기로는 곤란한 수 μm의 미소한 변형을 계측할 수 있다. 계측 결과는 컬러맵으로 표시되므로 미소 변형부를 한눈에 알 수 있다.
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