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X-ray 검사기(X-eye SF160FCT)

  • 등록 2014.04.28 13:38:40
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X-ray 검사기(X-eye SF160FCT)



SEC가 고해상도 Micro-focus X-ray 비파괴 검사 장비인 X-eye SF160FCT를 출품했다. 반도체, PCB/SMT 및 전자부품 등의 연구 분석용 장비로, Micro 단위의 숨은 결함까지 검출이 가능하다. 160kV Micro-focus X-ray Open Tube(1㎛ Spot Size)를 탑재했으며, 어떤 방향에서도 Manipulator 조작이 가능하다.
사용자 중심 Interface를 채택, Jog-stick, Mouse를 사용해 간단하게 조작할 수 있고 AFT 기능으로 자동으로 위치보정이 가능하다. 또한 Flat Panel X-ray Detector로 고품질의 X-ray 이미지를 확인할 수 있으며 Cone Beam CT와 Oblique CT, Dual CT 사용이 가능하다.

SEC
☎ (031)215-7341






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