[첨단 헬로티] 자이스는 지난28일(수) 서울 마포구에 위치한 자이스 본사 데모센터에서 최신 X-ray 및 CT 솔루션과 3차원 측정기 조도 측정 솔루션을 주제로 '자이스 오픈하우스 데이'를 개최했다. 자이스 오픈하우스 데이는 참관객에게 자이스의 최신 품질 솔루션을 소개하고, 그들이 직접 체험해 볼 수 있는 행사로 계획됐다. ▲세미나를 진행 중인 Terlemez, Okhan 담당자(좌)와 심장현 팀장(우) 이번 행사에서는 X-ray 및 CT 의 최신 사례를 소개하는 내용이 주를 이뤘다. 오전에는 행사를 위해 특별 초청한 자이스 독일 본사의 조도측정 전문가인 Terlemez, Okhan 담당자가 장비 소개와 심도 있는 기술 강연을 진행했다. 오후에는 CT·X-ray 장비 소개(장비 원리) 및 측정 가능한 평가 항목과 측정 사례에 대해 신용석 CT·X-ray 엔지니어가 발표를 진행했고, CT 및 3차원 측정기 및 CT를 두 눈으로 확인할 수 있는 데모센터 투어와 함께 맞춤형 개별 상담 시간을 가졌다. 한편, 자이스는 올해 정밀측정 부서에서 IQS부서를 재정비하며, 스캐너, X-ray, CT 장비를 비롯한 다양한 3차원 측정기를 포함해 고
측정 솔루션 공급업체인 텍트로닉스는 최근 IEEE 802.3bm 및 802.3bj 사양으로 정의된 4 레인 100G 전기 인터페이스를 위한 자동 적합성 테스트 솔루션인 TekExpress을 새롭게 발표했다. 이번 신제품은 33GHz부터 최고 70GHz에 이르는 텍트로닉스의 고성능 오실로스코프에서 사용 가능하며, 100G 이더넷(IEEE 802.3bj 및 IEEE 802.3bm Annex 83)의 전기적 검증 및 특성 분석 요구를 지원한다. 지원되는 특정 기술은 100G 이더넷을 위한 주요 전기 사양인 100GBASE-CR4/KR4 및 CAUI4이다. 이러한 추가 지원을 통해 텍트로닉스는 광학(100GBASE-SR4) 및 전기적 검증 분야를 모두 아우르는, IEEE 802.3bm 및 802.3bj 솔루션 세트를 제공한다. 텍트로닉스의 고성능 오실로스코프 담당 총책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는“IEEE 데이터 통신 표준에 대한 적합성 테스트는 공식 인증 절차가 없으므로 기본적으로는 특정한 목적을 위해 진행하게 된다”라며, “텍트로닉스는 설계자가 설계 및 컴포넌트의 전기적, 광학적 성능을 비교할 수 있는 정확하고