[헬로티]

산업용 이미징 솔루션 전문 기업인 뷰웍스가 국내 업계 최초로 독일 산업용 렌즈 제조사 슈나이더와 공동 개발한 하이엔드 렌즈 VEO 시리즈를 선보인다.

VEO 시리즈는 TDI 라인 스캔 카메라에 최적화되어 설계된 제품으로 뷰웍스의 VT 시리즈와 함께 사용할 시 성능을 극대화시킬 수 있다. JM과 CS 두 서브 시리즈로 출시되어 사용하는 카메라와 호환되는 서브 시리즈를 선택할 수 있다. VEO JM 시리즈는 16k/5㎛ 라인 센서를 탑재한 VT 시리즈(M95)에 최적화된 렌즈이므로 82 mm 라인 센서의 카메라에서 최대 성능을 발휘한다.

이와 다르게 VEO CS 시리즈는 12k/5㎛ 라인 센서의 VT 시리즈(M72)를 위한 렌즈이므로 62.5mm 라인 센서의 카메라와 사용시 최상의 영상 품질을 구현할 수 있다.

고배율, 고해상도를 구현하는 고성능 렌즈

독보적인 성능을 뽐내는 VEO 시리즈는 슈나이더에서 제조하는 렌즈 중에서도 최상위 등급인 다이아몬드와 사파이어 등급으로만 이루어져 있다.

렌즈 결상 능력의 판단 기준이 되는 MTF(Modulation Transfer Function) 성능이 높을 뿐만 아니라, 대구경(82mm)에 따른 위치별 MTF 편차를 최소화하여 전 영역에서 높은 MTF 성능을 보인다. 색수차 또한 현저히 적으며 저조도 환경에서도 안정적으로 높은 품질의 이미지를 포착한다.

가장 많이 적용되는 5㎛ 센서에 최적화 개발되어 72LP/mm(상측 기준) 이상의 좁은 선폭에서도 성능 저하를 보이지 않는다. VEO 시리즈는 최대 5.0X 배율의 고배율 렌즈까지 선보이며 픽셀 당 1.0㎛의 해상도까지 구현할 수 있다.

5.0X 배율 렌즈 VEO_JM DIAMOND 5.0X/F1.3 제품의 경우 1.1㎛의 크기까지 분해할 수 있는 뛰어난 분해능(resolving power)을 구현한다. 최대 F/1.3까지 조절되는 조리개 값으로 인해 NA(numerical aperture)가 0.305(물체측 기준)에 달하고 해외 경쟁사 동일 배율대의 렌즈들과 비교해도 뛰어난 성능을 자랑한다.

이처럼 높은 배율과 해상도 덕분에 고성능을 요구하는 미세결함 검출에 용이하다. 3.33X 배율의 VEO_JM DIAMOND 3.33X/F2.1 제품의 결함 검출력을 검증한 결과 문턱값(threshold value)을 15로 설정 시 Pin-hole 결함의 경우 0.6㎛ 이상 검출이 가능함을 확인했다. 동일 조건상 Island 결함은 1.1㎛ 이상 검출이 가능했고 Open, Short 결함의 경우 Pin-hole 결함보다 더 높은 검출 수준을 나타냈다.

표. Pin-Hole, ISLAND 결함 검출력 성능 (VEO_JM DIAMOND 3.33X / F2.1 LENS 사용)

VEO 시리즈의 뛰어난 검출력은 여러 분야에서 활용될 수 있다. 대면적, 고속 검사가 필수인 평판 디스플레이 (OLED/LCD/μLED 등) 검사 분야에서 특히나 두각을 나타낼 수 있으며, 그 외에도 반도체 Wafer 검사와 PCB 검사 등 고성능을 요구하는 다양한 분야에 적합하다.

디스플레이 검사 맞춤형 토탈 솔루션

뷰웍스는 고해상도 산업용 카메라에 최적화된 고성능 산업용 렌즈를 출시함으로써 이미징 시스템의 성능을 극대화하는 토탈 광학 솔루션을 완성시켰다.

TDI 라인 스캔 카메라 VT 시리즈와 고성능 렌즈 VEO 시리즈를 주축으로 광학적 특성 및 검사 대상에 최적화된 조명 솔루션 그리고 독자적인 스마트 카메라 기술 기반의 오토포커싱 유닛으로 구성된 종합적인 솔루션을 제공한다.

뷰웍스 관계자는 "이번 협업으로 완성된 토탈 솔루션은 고성능 시스템이 요구되는 평판 디스플레이 검사 분야에서 더욱 빛을 발할 것으로 보인다"고 말했다.

그는 “국내 업계 최초로 세계적인 렌즈 전문기업 슈나이더와 하이엔드 렌즈들을 개발해 디스플레이와 반도체 검사 시장에서 기술 우위를 더욱 확고히 할 전망”이라며 “앞으로 기술적 완성도를 한층 높이면서 해외 소수업체 중심의 외산 제품을 대체하고 광학 솔루션의 국산화에 앞장서겠다”고 밝혔다.