10월 20일, 데이터 자동인식 기술동향 세미나 열린다

2017.10.16 16:30:48

최근 데이터의 중요성이 부각되면서 자동인식(AIDC) 기술에 대한 관심이 높아지고 있다. 이러한 추세에 맞춰 다양한 산업 분야에서 활용되고 있는 ‘자동식별 및 데이터 캡처 기술’에 대한 세미나가 오는 10월 20일 개최된다. 


국가기술표준원이 주최하고 한국산업기술시험원이 주관하는 ‘2017년 ISO/IEC JTC1 SC31 국제준동향 세미나’는 자동식별 및 데이터 캡쳐 기술에 대한 산업계의 인식을 높이고 국내 기술의 국제표준화 컨설팅을 지원하는 자리다. 


세미나 프로그램은 ▲ISO/IEC JTC1 SC31 WG4 'Radio Communication'(Josef Preishuber-Pflügl) ▲ISO/IEC JTC1 SC31 'AIDC(Automatic Identification and Data Capture) 기술 동향(중앙대 권영빈 교수) ▲ISO/IEC JTC1 SC31 WG2 ‘Data and structure'(KAIST 박주상 연구원) ▲Test Method for Tag Interference Rejection Performance(한국산업기술시험원 권종원 선임) 등으로 구성된다. 또한 국내 기술 표준화 컨설팅도 마련돼 있다. 



이번 세미나는 10월 20일 오후 2시부터 대한상공회의소(중회의실 B)에서 진행되며, 참가비는 무료다. 

조상록 기자 mandt@hellot.net
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