[헬로티]

계측기 전문업체인 텍트로닉스가 ONFI(Open NAND Flash Interface) 표준을 위한 테스트 솔루션 TEK-PGY-ONFI을 발표했다.

ONFI 4.0 테스트 솔루션은 고성능 오실로스코프에서 사용 가능하며, ONFI 버스에서 DDR2/3 모드를 분석하기 위한 소프트웨어를 포함하고, 인터포저 기반의 효과적인 프로브 솔루션과 결합된다.

ONFI 표준은 ONFI 작업 그룹이 가전제품 및 컴퓨팅 플랫폼에 NAND 플래시 메모리를 통합하는 과정을 간소화하기 위해 발표한 표준이다. ONFI 4.0 사양은 성능 증대와 전력 효율성 향상을 위해 VccQ = 1.2V로 작동하는 최신 NV-DDR3 인터페이스를 도입했으며, NV-DDR2 및 NV-DDR3 I/O 속도를 667MT/s 및 800MT/s까지 확장하고 ZQ 캘리브레이션 기능을 추가했다.

속도가 높아지고 전압 레벨이 낮아진 만큼 ONFI 버스를 다루는 설계자들은 적합성 테스트 및 타이밍 문제에 대한 해결과 신호에 대한 액세스를 확보해야 하는 과제에 직면했다.

텍트로닉스 관계자는 “설계 및 테스트 엔지니어는 TEK-PGY-ONFI 소프트웨어를 사용해 ONFI 인터페이스의 ONFI 버스 타이밍 파라미터에 대한 적합성을 테스트할 수 있으며 명령, 주소, 데이터 입력 및 데이터 출력 트랜잭션의 자동 측정 기능을 제공받을 수 있다. TEK-PGY-ONFI 소프트웨어의 상세 보기 기능은 ONFI 파형의 각 전기 측정에 아날로그 파형을 어노테이션(annotation)을 통해 상호 연계하여 타이밍 문제를 해결하는 데 도움을 준다”고 설명했다.

TEK-PGY-ONFI 소프트웨어는 4GHz -33GHz 대역폭의 텍트로닉스 MSO/DPO70000 시리즈 오실로스코프에서 실행되며, 테스트에는 P7500 또는 P7300 시리즈 프로브가 권장된다.

텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당 총책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는 “이 ONFI 테스트 솔루션은 고객들로 하여금 메모리 기반 제품을 더욱 신속하고 확신을 갖고 출시할 수 있도록  필요한 기능을 제공한다”며  “수동 테스트와 비교할 때 이 솔루션은 적합성 테스트 시간을 대폭 줄이고 디버깅을 간소화하고 궁극적으로 생산성을 높여준다”고 말했다.

김진희 기자 (eled@hellot.net)