텍트로닉스가 최근 16GT/s의 데이터 전송 속도 지원 뿐만 아니라 업계 최초로 PCIe 4.0 아키텍처를 지원하는 자동 트랜스미터 및 리시버 테스트 솔루션이 포함된 PCI Express(PCIe) 테스트 솔루션 제품군의 향상된 버전을 발표했다.

PCIe 4.0 기술의 데이터 전송 속도가 더욱 빨라짐에 따라 채널 손실, 지터 측정의 까다로움 그리고 더 복잡해진 링크 트레이닝 및 시간 요구 사항들과 같은 새로운 테스트 관련 이슈들이 발생했다. 설계상의 마진이 줄어들면서 정확한 표준화된 측정 솔루션이 디버깅, 설계 검증 및 상호 운용성 테스팅에서 핵심적인 역할을 하게 됐다.

텍트로닉스 관계자는 "이러한 모든 요구 사항들은 DPO70000SX 고성능 오실로스코프에서 지원 가능한 PCIe 4.0 및 3.0을 위한 텍트로닉스의 최신 테스트 솔루션을 사용해 충분히 충족시킬 수 있다"고 강조했다.

텍트로닉스의 DPO/DPS70000SX와 DPO/MSO70000DX 고성능 오실로스코프를 위한 옵션 PCE4 기능은 100MHz 레퍼런스 클럭과 피코세컨드 지터 요구 사항을 포함한 새로운 PCIe 4.0 기본 사양에 맞는 새로운 트랜스미터(Tx) 측정 방법을 제공하는데, 이는 PCI Express의 네 가지 속도인 2.5, 5.0, 8.0, 16.0GT/s에 모두 사용된다.

다른 개선 사항으로는 새로운 U. 2 폼팩터와 전체 테스트 시간을 30% 가까이 줄여 최적화돼 있다. 이와 동일한 기능이 PCI Express 3.0 기술 지원을 위한 텍트로닉스 솔루션인 옵션 PCE3에도 개선 사항으로 추가됐다.

현재 텍트로닉스의 기술 솔루션은 PCIe 4.0 및 PCIe 3.1a 기본 사양 리시버 테스팅을 지원한다. 이 솔루션은 텍트로닉스 BERTScope 비트 오류율 테스터와 텍트로닉스 고성능 실시간 오실로스코프를 자동화해 스트레스드 아이(stressed eye) 오프닝을 보정하고 Rx 적합성 및 지터 허용 오차를 테스트한다.

텍트로닉스의 파트너인 그래나이트 리버 랩(Granite River Labs)과 협력해 개발된 이 솔루션은 업계 표준 방식에 따라 간단한 사용자 인터페이스로 복잡한 PCIe 테스트를 자동화할 수 있도록 지원해 장비 Calibration 시간을 크게 줄여준다. 이 솔루션은 또한 사용자가 정의한 범위를 사용하여 다양한 타이밍 및 전압 파라미터를 통한 루핑을 지원하므로 2차원 결과 플롯을 만들 수 있다.

PCI Express 기본 사양인 개정판 4.0, 버전 0.7은 1,000페이지가 넘는 분량으로 매우 복잡해 엔지니어가 빠르게 적응하는 것이 쉽지 않다. 텍트로닉스는 PCI-SIG®와 같은 학술 기관과 업무 협조를 통해 업계의 테스트 요구 사항을 사용하기 편리한 턴키 테스트 솔루션으로 변환, 명확하고 간결한 특성화 보고서를 만들 수 있도록 지원한다.

텍트로닉스의 고성능 오실로스코프 담당 총 책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는 "PCIe와 같은 중요한 업계 사양이 진화함에 따라 테스트와 측정 툴 역시 이에 발맞춰 발전해야 한다. 최고의 정확도와 확장성을 가진 DPO70000SX 오실로스코프 그리고 새롭게 향상된 텍트로닉스의 PCIe 솔루션을 사용하면 최신 버전의 PCIe 사양에 따라 디버깅 및 표준 적합성을 검증할 수 있으며 또한 표준 적합성 테스트 시간을 크게 단축하고 생산성을 높일 수 있다”고 말했다.

김진희 기자 (eled@hellot.net)